Résumé: Cette thèse est consacrée a l’étude d'un phénomène critique induit par l'environnement spatial sur les circuits intégrés complexes: il s'agit du phénomène d'upset qui se traduit par le basculement intempestif du contenu d'un point mémoire suite a l'impact d'une particule lourde dans des zones sensibles du circuit. les conséquences de ce phénomène sur le fonctionnement de processus complexes peuvent être fatales au niveau du contrôle d'un engin évoluant dans l'espace. les techniques de durcissement ne garantissant pas une totale immunité face au phénomène d'upset, il devient alors nécessaire d'avoir recours a des méthodes dites de prévision qui consistent a estimer la vulnérabilité en orbite des composants candidats aux applications spatiales, dans le but de choisir les circuits les moins sensibles. ces techniques de prévision reposent sur la mise en œuvre de méthodologies expérimentales de test aux ions lourds destinées a déterminer le comportement du circuit cible en ambiance radiative. dans le but de réaliser de telles expériences nous avons conçu et réalise un système de test, le testeur fute6, et utilise trois moyens différents de simulation de l'environnement spatial (un accélérateur de particules lourdes, un accélérateur de protons et un équipement a base d'une source californium). dans le cas des microprocesseurs, des séquences de test dites de test de registres sont généralement utilisées. ces séquences se limitent a initialiser l'ensemble de registres accessibles par programme, pour en observer leur contenu après une attente. a partir des résultats obtenus par application de la méthodologie de test pour évaluer la sensibilité de divers processeurs cisc et risc, nous montrons que les estimations des taux d'erreur en orbite réalises a l'aide de séquences de test de registres peuvent conduire a des décisions erronées en ce qui concerne l'acceptation ou le rejet de circuit candidats aux applications spatiales

Grenoble:
Langue: Français
Collation: 1 vol. (316 p.) ill. ;20 cm
Diplôme: Doctorat
Etablissement de soutenance: Grenoble, Institut National Polytechnique
Spécialité: Informatique
Index décimal 621 .Physique appliquée (électrotechnique, génie civil, génie mécanique, ingénierie appliquée, principes physiques en ingénierie)
Thème Informatique

Mots clés:
Fiabilité
Prévision statistique
Etude expérimentale
Sciences appliquées :Electroniques
Taux défaillance

Note: Bibliogr.pp.217-231; Annexe pp.237-315