Génération des residus robustes pour la détection et l'isolation des défailiances par l'approche de transfert
Thèses / mémoires Ecrit par: Benloucif, M.L. ; Kechida, Sihem ; Publié en: 1995
Annaba:
Langue:
Français
Collation:
108 p. ill.
;30 cm
Diplôme:
Magister
Etablissement de soutenance:
Annaba, Université Badji Mokhtar
Spécialité:
Automatique
Index décimal
600 .Technologie (sciences appliquées)
Thème
Electronique
Mots clés:
Détection (électronique)
Note: Annexe pp.97-103;Bibliogr.pp. 104-108
Génération des residus robustes pour la détection et l'isolation des défailiances par l'approche de transfert