Génération des residus robustes pour la détection et l'isolation des défailiances par l'approche de transfert
الأطروحات و الكتابات الأكاديمية من تأليف: Benloucif, M.L. ; Kechida, Sihem ; نشر في: 1995
Annaba:
لغة:
فرنسية
الوصف المادي:
108 p. ill.
;30 cm
الشهادة:
Magister
مؤسسة مناقشة الرسالة:
Annaba, Université Badji Mokhtar
تخصص:
Automatique
الفهرس العشري
600 .التكنولوجيا (العلوم التطبيقية)
الموضوع
الإلكترونيك
الكلمات الدالة:
Détection (électronique)
ملاحظة: Annexe pp.97-103;Bibliogr.pp. 104-108
Génération des residus robustes pour la détection et l'isolation des défailiances par l'approche de transfert