img

تفاصيل البطاقة الفهرسية

Influence d'oxydation thermique classique séche (C.D.T.O) sur les profils SIMS de dopage et la diffusivité du dopant dans les films Si-LPCVD fortement dopés in-situ au bore

الأطروحات و الكتابات الأكاديمية من تأليف: Boukezzata, M. ; Ait-Kaki, Abdelaziz ; نشر في: 1996


طبعة: Constantine: Universite de Constantine
لغة: فرنسية
الوصف المادي: 86 p. ill. ;30 cm
الشهادة: Magister
مؤسسة مناقشة الرسالة: Institut d'Electronique
الموضوع الإلكترونيك

ملاحظة: Bibliogr.pp.77-80